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半導体製造向けの高度なメトロロジーソリューション
Nova -Metrology Solutions for Semiconductors Manufacturing | 2006年|
- 幅広い製品群: Novaは、寸法計測から材料計測、化学計測まで、多岐にわたるメトロロジーソリューションを提供しており、半導体製造業界の各種ニーズに対応しています。

- 高度な技術を駆使: 最新の技術を活用した計測手法(例: 光学散乱法やラマン分光法)を採用しており、精度の高いデータ収集を可能にしています。

- 効率的な管理システム: Nova Fleet Managementなどのソフトウェアソリューションにより、機器の管理や整備が効率的に行えるため、生産性の向上に寄与しています。